پاورپونت بررسی ساختار و عملکرد میکروسکپ FE-SEM در قالب 32 اسلاید، مقدمه: میکروسکوپ الکترونی روبشی (Scanning Electron Microscope) که به آن به اختصار SEM گویند یکی از ابزارهای مورد استفاده در فناوری نانو است که با کمک بمباران الکترونی تصاویر اجسامی به کوچکی 10 نانومتر را برای مطالعه تهیه می کند. ...
تاریخچه: میکروسکوپ نیروی اتمی (Atomic Force Microscope) یا میکروسکوپ نیروی پویشی در سال ۱۹۸۶ توسط کوئِیْت، بنینگ و گربراختراع شد. مانند تمام میکروسکوپهای پراب پویشی دیگر، AFM از یک پراب (probe) تیز که بر روی سطح نمونه تحت بررسی حرکت میکند، استفاده میکند. در مورد م.ن.ا، نوکی بر روی کانتیلیور ...